专利详情

专利名称	全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法
申请号	CN201210015266.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102538971A	公开（授权）日	2012.07.04
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	曹绍谦;步鹏;步扬;王向朝;汤飞龙;李中梁
主分类号	G01J4/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J4/00(2006.01)I
专利有效期	全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法至全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法，该装置包括：补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括：改变偏控电压，得到电光延迟为2π的光强矩阵；改变偏控电压，得到电光延迟为π/2的光强矩阵；对两个光强矩阵进行数据处理即可获得全光场全斯托克斯参量。本发明具有共光轴且结构简单、稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。