专利详情

专利名称	老化预测和超速时延测试双功能的系统及方法
申请号	CN201010181640.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101852839A	公开（授权）日	2010.10.06
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	靳松;韩银和;李华伟;李晓维
主分类号	G01R31/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/28(2006.01)I
专利有效期	老化预测和超速时延测试双功能的系统及方法至老化预测和超速时延测试双功能的系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及老化预测和超速时延测试双功能的系统和方法，系统包括：时钟信号生成模块，用于根据第一控制向量生成可编程时钟信号，根据第二控制向量生成多个测试时钟信号；工作模式及时钟选择模块，用于根据控制信号确定系统的工作模式，并在可编程时钟信号、系统功能时钟信号和测试时钟信号中选择，将选择的信号输入到目标电路的系统时钟树，以进行对应的工作模式的操作；工作模式包括，正常工作模式，老化预测模式，以及超速时延测试模式；电路响应捕获模块，用于在当前模式为老化预测模式时，在捕获区间捕获目标电路的响应，并根据是否在捕获区间内出现信号跳变而产生相应的报警信号。本发明能够进行超速时延测试和在线电路老化预测。