专利详情

专利名称	超导磁悬浮转子漂移测试装置及测试方法
申请号	CN201210032521.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102565724A	公开（授权）日	2012.07.11
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	胡新宁;王秋良;崔春艳;戴银明;王晖;王厚生
主分类号	G01R33/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01R33/02(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I
专利有效期	超导磁悬浮转子漂移测试装置及测试方法至超导磁悬浮转子漂移测试装置及测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种超导磁悬浮转子漂移测试装置，其旋转平台(2)上安放倾斜轴(3)，倾斜轴(3)上装有外旋转轴(4)，外旋转轴(4)的中间位置安装有内旋转轴(14)，在内旋转轴(14)上固定内旋转轴夹具(15)，低温容器(5)固定在内旋转轴夹具(15)上。在指定的空间坐标系下，通过伺服系统控制外旋转轴(4)和内旋转轴(14)的转动，使光电传感器(12)的输出信号变化率为零，并记录外旋转轴(4)和内旋转轴(14)的转动角度，通过建立的漂移测试数学模型公式，计算得到超导磁悬浮转子(10)漂移角速度ωd的大小。