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基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统

  • 申请号:CN200810114537.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院物理研究所
  • 公开(公开)号:CN101294889
  • 公开(公开)日:2008.10.29
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统
申请号 CN200810114537.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101294889 公开(授权)日 2008.10.29
申请(专利权)人 中国科学院物理研究所 发明(设计)人 高鸿钧;郇庆
主分类号 G01N13/10(2006.01)I IPC主分类号 G01N13/10(2006.01)I;G12B21/00(2006.01)I
专利有效期 基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统 至基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明一种基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统,针对振 动来源和特性,采用了包括波纹管、压电陶瓷管和弹簧在内的多级主动/ 被动式减振装置。波纹管用于连接系统主腔和脉冲管制冷头,实现系统整 体的振动隔绝。针对脉冲管制冷机特有的低频振动,以压电陶瓷管和数字 信号处理器为核心的主动式减振装置。铍铜弹簧和阻尼磁铁组成的又一级 被动式减振装置进一步对振动隔绝。本发明消除了从脉冲管制冷机、制冷 头到扫描探针头的振动,可用于其他要求低温的振动敏感场合,节省大量 液氦制冷剂,简化设备操作和维护并显著延长低温保持时间。

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