专利详情

专利名称	基于量子统计的高精度光学成像装置与方法
申请号	CN201210364582.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102902056A	公开（授权）日	2013.01.30
申请（专利权）人	中国科学技术大学	发明（设计）人	孙方稳;崔金明;郭光灿
主分类号	G02B21/36(2006.01)I	IPC主分类号	G02B21/36(2006.01)I
专利有效期	基于量子统计的高精度光学成像装置与方法至基于量子统计的高精度光学成像装置与方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于量子统计的光学成像装置，包括激光共聚焦显微装置(1)、单光子计数统计装置(2)和主控装置(3)，其中，激光共聚焦显微装置(1)用于激发样品并收集样品发射的荧光，并将该荧光导入所述单光子计数统计装置(2)；单光子计数统计装置(2)用于接收来自激光共聚焦显微装置(1)的荧光信号，产生多个单光子计数信号和多光子符合计数信号，并向主控装置(3)输出多个单光子计数信号和多光子符合计数信号；主控装置(3)分别连接于所述激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，用于产生控制信号并分别输出给激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，以控制激光共聚焦显微装置(1)的共聚焦扫描与单光子计数统计装置(2)的数据采集同步。本发明能提供相邻物体的高精度成像和分辨，其精度不受瑞利极限限制。