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一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法

  • 申请号:CN201210461745.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN102931057A
  • 公开(公开)日:2013.02.13
  • 法律状态:实质审查的生效
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专利详情

专利名称 一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法
申请号 CN201210461745.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102931057A 公开(授权)日 2013.02.13
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 王浩敏;谢红;孙秋娟;康晓旭;刘晓宇;谢晓明
主分类号 H01L21/04(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/04(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I
专利有效期 一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法 至一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种基于栅介质结构的石墨烯场效应器件及其制备方法,该石墨烯场效应器件包括:具有栅电极沟槽的衬底;形成于所述栅电极沟槽中的栅电极;Al2O3介电薄膜层,位于所述栅电极沟槽中的栅电极表面,且Al2O3介电薄膜层表面与衬底表面齐平;覆盖于所述Al2O3介电薄膜层和衬底表面的BN薄膜层;形成于所述BN薄膜层上方的石墨烯;设置在所述石墨烯上方的源电极和漏电极,所述源电极和漏电极分别与石墨烯电性连接。本发明制备的BN薄膜层与Al2O3介电薄膜层共同构成新型的栅介质结构,有效保持了石墨烯中固有载流子的高迁移率,增强栅极的场效应作用,适用于石墨烯基高射频器件及碳基大规模集成电路制造领域。

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