微力学测试仪及其测试方法
- 申请号：CN200410080144.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院力学研究所
- 公开(公开)号：CN1752734
- 公开(公开)日：2006.03.29
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 微力学测试仪及其测试方法 | ||
| 申请号 | CN200410080144.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN1752734 | 公开（授权）日 | 2006.03.29 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院力学研究所 | 发明（设计）人 | 张泰华;郇勇;杨业敏 |
| 主分类号 | G01N3/08(2006.01) | IPC主分类号 | G01N3/08(2006.01);G01N3/00(2006.01) |
| 专利有效期 | 微力学测试仪及其测试方法 至微力学测试仪及其测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种微力学测试仪及其测试方法。该 试仪包括：一计算机，该计算机包括一信号发生模块和一信号 采集模块；一输入端与信号发生模块电连接的功率放大器；一 用来对试样进行加载的测试仪主机。测试方法包括：信号发生 模块产生一电压信号，经功率放大器放大后驱动测试仪主机工 作；信号采集模块采集位移信号和线圈的驱动信号；将采集到 的信号换算为位移和载荷值；按照力学模型进行数据处理，得 出被测试样的杨氏模量和强度极限。由于采用电磁加载方式， 使得本测试仪的分辨力大幅度提高。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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