专利详情

专利名称	用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法
申请号	CN200410090806.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1773276	公开（授权）日	2006.05.17
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	高文;张京芬;蔡津津;贺思敏;曾嵘;陈润生;王海鹏
主分类号	G01N30/86(2006.01)	IPC主分类号	G01N30/86(2006.01);G06F19/00(2006.01)
专利有效期	用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法至用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法，该方法从串联质谱和从各元素的原子个数待定的通用分子式中分别获取碎片离子的单同位素的质量以及各同位素谱峰相对于单同位素的相对丰度；将分别获取的质量和相对丰度做匹配以获得所述通用分子式中待定的各元素的原子个数的非负整数解，得到碎片离子的分子式。本发明的方法利用串联质谱中碎片离子的同位素谱峰信息，通过串联质谱碎片离子的同位素谱峰的模式计算此碎片离子对应的分子式。本发明的方法可以提供碎片离子准确的分子式信息，可对鉴定多肽序列的数据库搜索方法提供的候选序列进行鉴别；以及为求解多肽序列的de novo方法产生高可靠候选序列提供依据。