专利详情

专利名称	测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置
申请号	CN201210359091.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102879093A	公开（授权）日	2013.01.16
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	黄文发;李学春;汪小超;王江峰;彭宇杰;张若凡;范兴诺
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I
专利有效期	测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置至测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置，其构成包括连续光纤激光器、光纤隔离器、1×2光纤分束器、双包层光纤放大器、光纤环行器、温度控制系统、单模光纤、2×2端口3dB分束器、带通滤波器、光电探测器、电谱分析仪。本发明利用液氮对光纤进行温度可控的制冷，并采取光外差探测技术测量光纤中受激布里渊散射增益谱，可提高测量精度。本发明具有可实现全光纤化，温度可控，结构紧凑，测量精度高的特点。