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一种超导本征结的制备方法

  • 申请号:CN201010143759.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN101820046A
  • 公开(公开)日:2010.09.01
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种超导本征结的制备方法
申请号 CN201010143759.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101820046A 公开(授权)日 2010.09.01
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 尤立星;王兴
主分类号 H01L39/24(2006.01)I IPC主分类号 H01L39/24(2006.01)I
专利有效期 一种超导本征结的制备方法 至一种超导本征结的制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种本征结的制备方法,包括:(1)高温超导单晶生长;(2)剥离并固定超薄单晶于基片上;(3)超薄单晶选择及厚度确定;(4)本征结制备;其中,步骤(2)中,通过多次剥离BSCCO单晶薄片,将肉眼看不到的单晶碎片吸附于基片表面。步骤(3)根据需要选择合适大小和厚度的单晶用于本征结制备。本发明的优点是:(1)采用了超薄的单晶,厚度远小于材料的穿透深度,从而可以有效的吸收被探测信号。同时薄超导单晶有助于本征结和基片之间的热扩散;(2)制备过程没有采用胶固定工艺,有助于超导材料和基片之间的热扩散;(3)单晶表面和基片之间的高度差仅为单晶本身厚度,从几十到几百纳米,和薄膜厚度相当。

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