专利详情

专利名称	一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法
申请号	CN200510111361.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1786690	公开（授权）日	2006.06.14
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所;上海蓝宝光电材料有限公司	发明（设计）人	陆卫;夏长生;李志锋;张波;李宁;陈效双;陈明法
主分类号	G01N21/65(2006.01)	IPC主分类号	G01N21/65(2006.01);G01N25/00(2006.01);G01N27/00(2006.01);G01N33/00(2006.01)
专利有效期	一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法至一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法	法律状态	授权
说明书摘要	一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法，包括：1.在很低注入电流下，通过控制其周围温度获得发光峰位随结温的变化关系；2.在一定注入电流下，测量其在不同温度下发光峰位的变化关系，从中得出高温下发光峰位的变化关系，并外推至坐标轴，得到去除电流屏蔽效应后，在某一温度下的发光峰位；3.将此发光峰位数值代入从1得到的结温与发光峰位的关系判断在此注入电流及温度下发光二极管PN 结区的温度。本发明可在很小的误差范围内表征在不同注入电流及温度下GaN基半导体发光二极管PN结区的实际温度，有利于GaN基半导体发光二极管的性能表征和优化研究。