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FinFET及其制造方法

  • 申请号:CN201210285604.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103579004A
  • 公开(公开)日:2014.02.12
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 FinFET及其制造方法
申请号 CN201210285604.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103579004A 公开(授权)日 2014.02.12
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 朱慧珑;许淼
主分类号 H01L21/336(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I
专利有效期 FinFET及其制造方法 至FinFET及其制造方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本申请公开了一种FinFET及其制造方法,该FinFET包括:半导体衬底;半导体衬底上的应力作用层;应力作用层上的半导体鳍片,该半导体鳍片包括沿着其长度方向延伸的两个侧壁;半导体鳍片的侧壁上的栅极介质层;栅极介质层上的栅极导体层;以及半导体鳍片的两端处的源区和漏区,其中应力作用层在半导体鳍片下方与半导体鳍片平行延伸,使得应力作用层沿着半导体鳍片的长度方向对半导体鳍片施加应力。

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