专利详情

专利名称	一种基于脉冲激光光源的反射率/透过率综合测量方法
申请号	CN201310631614.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103616164A	公开（授权）日	2014.03.05
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	李斌成;祖鸿宇;韩艳玲
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于脉冲激光光源的反射率/透过率综合测量方法至一种基于脉冲激光光源的反射率/透过率综合测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种基于脉冲激光光源的反射率/透过率综合测量方法，步骤为：一束脉冲激光光束被分束为参考光束和探测光束，参考光束被聚焦到光电探测器直接探测，探测光束注入光学谐振腔。在测量反射率大于99%的光学元件时采用脉冲光腔衰荡技术，分别测量初始光学谐振腔输出信号的衰荡时间τ0和加入待测光学元件后测试光学谐振腔输出信号的衰荡时间τ1，计算得到待测光学元件反射率R。在R值小于99%时采用分光光度技术测量待测光学元件的反射率。移走光学谐振腔的输出腔镜，从待测光学元件反射的探测光被聚焦到光电探测器探测，记录探测光束和参考光束光强信号比值，通过定标获得待测光学元件反射率R。