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一种纳米线衬底结构及其制备方法

  • 申请号:CN201310670650.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103633123A
  • 公开(公开)日:2014.03.12
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种纳米线衬底结构及其制备方法
申请号 CN201310670650.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103633123A 公开(授权)日 2014.03.12
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 孙兵;刘洪刚;赵威;王盛凯;常虎东
主分类号 H01L29/20(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/20(2006.01)I;H01L29/205(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;B82Y10/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I
专利有效期 一种纳米线衬底结构及其制备方法 至一种纳米线衬底结构及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种纳米线衬底结构及其制备方法,该纳米线衬底结构包括:单晶衬底;形成于单晶衬底上的缓冲层;形成于缓冲层上的牺牲层;以及形成于牺牲层上的纳米线结构层。本发明是在磷化铟和砷化镓衬底上形成铟镓砷纳米线结构,为铟镓砷沟道纳米线环栅MOSFET提供基础,可应用于CMOS集成技术中,采用铟镓砷来替代硅作为沟道材料有利于提高NMOSFET的电学特性,而纳米线环栅场效应晶体管结构的栅控能力强,可以有效抑制MOSFET的短沟效应,提高器件电学特性。

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