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生长半极性GaN厚膜的方法

  • 申请号:CN201310750779.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103647008A
  • 公开(公开)日:2014.03.19
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 生长半极性GaN厚膜的方法
申请号 CN201310750779.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103647008A 公开(授权)日 2014.03.19
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 羊建坤;魏同波;霍自强;张勇辉;胡强;段瑞飞;王军喜
主分类号 H01L33/00(2010.01)I IPC主分类号 H01L33/00(2010.01)I
专利有效期 生长半极性GaN厚膜的方法 至生长半极性GaN厚膜的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了一种生长半极性GaN厚膜的方法。该方法包括:步骤A,在衬底上外延半极性GaN模板层;步骤B,在GaN模板层上制备纳米级网状结构的TiN掩膜层;步骤C,在TiN掩膜层上制备自组装纳米球阵列掩膜层;以及步骤D,在依次沉积半极性GaN模板层、TiN掩膜层和自组装纳米球阵列掩膜层的衬底上继续外延生长半极性GaN厚膜。本发明的方法可以有效释放半极性GaN厚膜中的应力,实现高质量、大面积半极性GaN厚膜异质外延。

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