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CT探测器偏转角的确定方法和装置

  • 申请号:CN201310582495.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院过程工程研究所
  • 公开(公开)号:CN103654833A
  • 公开(公开)日:2014.03.26
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 CT探测器偏转角的确定方法和装置
申请号 CN201310582495.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103654833A 公开(授权)日 2014.03.26
申请(专利权)人 中国科学院过程工程研究所 发明(设计)人 孟凡勇;李忠传;李静海
主分类号 A61B6/03(2006.01)I IPC主分类号 A61B6/03(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;H05G1/26(2006.01)I
专利有效期 CT探测器偏转角的确定方法和装置 至CT探测器偏转角的确定方法和装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括:使用待测CT对被测物体进行全周扫描,获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2;以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点,以探测器阵列所在直线为X轴,建立坐标系,计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2;计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD;根据RD、q1和q2,确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体,仅通过直接扫描被测物体,并对采集的原始数据进行简单的运算,即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。

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