一种双级次光谱凸面光栅光谱仪
- 申请号：CN201310590962.2
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号：CN103674246A
- 公开(公开)日：2014.03.26
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种双级次光谱凸面光栅光谱仪 | ||
| 申请号 | CN201310590962.2 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103674246A | 公开（授权）日 | 2014.03.26 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 王跃明;郎均慰;王建宇;肖喜中;陈杨;鲍智康;王晟玮;庄晓琼;黄文俊 |
| 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种双级次光谱凸面光栅光谱仪 至一种双级次光谱凸面光栅光谱仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种双级次光谱凸面光栅光谱仪，该系统在由凸球面光栅和凹球面反射镜构成的同轴形式的光学系统后设置分光片，同时利用了凸球面光栅分光出的-1级次光谱和-2级次光谱。与传统凸面光栅光谱仪相比，该系统提高了光学效率以及光谱分辨率，降低了对于凸球面光栅的设计加工难度与系统加工装调的难度。本发明适用于机载或星载对地观测高分辨率光谱成像。 | ||
交易流程
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