专利详情

专利名称	一种基于表面等离子体谐振的局部电化学成像测试系统
申请号	CN201310451022.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103675053A	公开（授权）日	2014.03.26
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	崔大付;张璐璐;陈兴;孙建海;李辉;蔡浩原
主分类号	G01N27/27(2006.01)I	IPC主分类号	G01N27/27(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I
专利有效期	一种基于表面等离子体谐振的局部电化学成像测试系统至一种基于表面等离子体谐振的局部电化学成像测试系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于表面等离于体谐振的局部电化学成像测试系统，其包括光学系统、机械系统、数据采集系统、流通系统、电化学系统和计算机控制系统;光学系统包括SPR芯片、光学棱镜和光源，光源发出入射激光并照射至光学棱镜;流通系统包括微流控测试池;待测物通过所述微流控测试池流经SPR芯片上表面引起所述表面等离于谐振吸收峰的改变;电化学系统问待测物提供电刺激使得待测物产生电化学反应，并采集相应的电化学信号;所述数据采集系统采集所述表面等离于谐振吸收峰的改变;所述机械系统用于调整光源发出的入射激光的角度;所述计算机控制系统根据所述电化学信号和所述表面等离子谐振吸收峰的变化获得待测物的相应信息。