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一种功率VDMOS器件低温远程在线测试系统

  • 申请号:CN201310693430.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103675639A
  • 公开(公开)日:2014.03.26
  • 法律状态:专利申请权、专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种功率VDMOS器件低温远程在线测试系统
申请号 CN201310693430.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103675639A 公开(授权)日 2014.03.26
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 高博;刘刚;王立新;韩郑生;王春林
主分类号 G01R31/26(2014.01)I IPC主分类号 G01R31/26(2014.01)I
专利有效期 一种功率VDMOS器件低温远程在线测试系统 至一种功率VDMOS器件低温远程在线测试系统 法律状态 专利申请权、专利权的转移
说明书摘要 本发明提供了一种功率VDMOS器件低温远程在线测试方法,包括以下步骤:连接硬件设备,并进行调试以确保整个实验系统运行良好;控制计算机运行测试程序,向测试开发板输出控制指令;测试开发板接受指令,单片机根据指令选通开关;根据选通的开关,选中被测试器件开发板上相应的器件;测试设备测试被选中的器件,并将测试数据返回给控制计算机;控制计算机接受测试设备的测试数据,并显示、保存。本发明还提供了一种功率VDMOS器件低温远程在线测试系统。本发明克服了通常实验时测试数量少、耗费时间长的缺点,同时避免了测试了器件表面水汽对仪器的影响,并且此测试方法简单、快速。

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