点衍射移相式干涉仪高度传递函数测试装置及其测试方法
- 申请号:CN201410016043.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN103697808A
- 公开(公开)日:2014.04.02
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 点衍射移相式干涉仪高度传递函数测试装置及其测试方法 | ||
| 申请号 | CN201410016043.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103697808A | 公开(授权)日 | 2014.04.02 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 马冬梅;张海涛;孙鸽;于杰 |
| 主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B9/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 点衍射移相式干涉仪高度传递函数测试装置及其测试方法 至点衍射移相式干涉仪高度传递函数测试装置及其测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 点衍射移相式干涉仪高度传递函数测试装置及其测试方法,属于光学测试领域,为解决现有技术无法对球面测试时干涉仪传递函数测试问题,技术方案为:打开点衍射相移干涉仪中的光学照明系统与干涉图接收采集光电系统的电源,使其处于工作状态;在测试光路中与光轴方向夹角45°放置高度传递函数测试基准板使光路折转,在其后放置高精度球面反射镜,使其球心与衍射光出射点即针孔衍射板重合;在干涉图接收采集光电系统上可获得基准板的干涉图,通过测试采集相移图像将得到基准板的面形测试图,即测试基准板的高度测试结果hi;建立计算模型,通过高度测试结果hi与基准板相应频域的高度值h0相比较,测得干涉仪高度测试传递函数值H=hi/h0。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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