专利详情

专利名称	一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法
申请号	CN201310740527.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103698764A	公开（授权）日	2014.04.02
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	李道京;李烈辰
主分类号	G01S13/90(2006.01)I	IPC主分类号	G01S13/90(2006.01)I
专利有效期	一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法至一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法，其包括：S1：在获取回波信号时，在方位向对回波信号进行稀疏采样；S2：对主天线的回波信号进行距离脉冲压缩和距离徙动校正；S3：对副天线的回波信号进行二维成像获得副天线图像；S4：将副天线图像的相位作为参考相位，去除每个散射单元的初始相位；步骤S5：在频域引入压缩感知理论，对每个距离门的信号建立时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像和傅里叶系数之间关系的模型；S6：采用基于l1范数的最优化方法，利用时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像、傅里叶系数之间的关系模型，获得每个距离门复图像在傅里叶基矩阵下的傅里叶系数，反变换组合获得二维合成孔径雷达复图像。