
基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的双向边扩展方法
- 申请号:CN201310670740.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:深圳先进技术研究院
- 公开(公开)号:CN103699818A
- 公开(公开)日:2014.04.02
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的双向边扩展方法 | ||
申请号 | CN201310670740.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103699818A | 公开(授权)日 | 2014.04.02 |
申请(专利权)人 | 深圳先进技术研究院 | 发明(设计)人 | 孟金涛;张慧琳;彭丰斌;魏彦杰;冯圣中 |
主分类号 | G06F19/22(2011.01)I | IPC主分类号 | G06F19/22(2011.01)I |
专利有效期 | 基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的双向边扩展方法 至基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的双向边扩展方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及基因测序技术领域,提供了一种基于多步双向De?Bruijn图的变长kmer查询的顶点扩展方法,包括:步骤A:读取测序数据源文件,构造多步双向De?Bruijn图;步骤B:在所述多步双向De?Bruijn图中对交叉双向边进行统计;步骤C:在所述多步双向De?Bruijn图中基于变长kmer查询的双向边扩展。本发明只针对De?Bruijn图上已经存在的分叉边构造变长的kmer组合,并在输入序列中查询其出现次数,然后根据其次数选择双向边的合并;选择最优的分叉边的合并,将双向边的错误合并的可能降到最低;可以显著提高contigs的长度,也能够将contig的质量损失降到最小。 |
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