专利详情

专利名称	一种大口径光学元件表面损伤分布图的生成方法
申请号	CN201410016315.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103743750A	公开（授权）日	2014.04.23
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	陶显;张正涛;张峰;史亚莉;尹英杰;白明然
主分类号	G01N21/88(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/88(2006.01)I
专利有效期	一种大口径光学元件表面损伤分布图的生成方法至一种大口径光学元件表面损伤分布图的生成方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种大口径光学元件表面损伤分布图的生成方法，该方法包括如下步骤：对现有的多张大口径光学元件表面损伤子图像进行损伤轮廓提取，获取所有的损伤轮廓序列；计算得到的损伤轮廓的特征；基于损伤轮廓的特征对损伤轮廓进行分类标记；根据指定要求和分类标记信息，对损伤轮廓进行筛选、处理和显示，生成大口径光学元件表面损伤分布图。本发明可以很大程度上减少人工操作，实现元件表面质量全流程跟踪和闭环控制。