温室气体CH4中碳、氢元素富集分析仪
- 申请号：CN201410014872.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院寒区旱区环境与工程研究所
- 公开(公开)号：CN103743846A
- 公开(公开)日：2014.04.23
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 温室气体CH4中碳、氢元素富集分析仪 | ||
| 申请号 | CN201410014872.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103743846A | 公开（授权）日 | 2014.04.23 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院寒区旱区环境与工程研究所 | 发明（设计）人 | 孙维贞;王肖波;余海棠 |
| 主分类号 | G01N30/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N30/08(2006.01)I;G01N30/20(2006.01)I;G01N30/72(2006.01)I |
| 专利有效期 | 温室气体CH4中碳、氢元素富集分析仪 至温室气体CH4中碳、氢元素富集分析仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开一台对温室气体CH4碳、氢元素富集分析仪，将样品管采集到的温室气体样品在He气下经导样阀导入，由化学阱除去空气中的CO，由预冻冷阱除去其它杂气后进入氧化炉中氧化成CO2和H2O,生成的CO2在液氮冷阱中富集和转移，再经色谱柱分离和水阱吸附去水由开式分流接口导入气体同位素质谱仪进行检测；生成的H2O由集水冷阱释放进入Cr反应炉，反应生成的H2由开式分流接口导入气体同位素质谱仪进行检测。本发明带有直接和同位素质谱仪主机相接的接口，是一个独立的同位素质谱仪附属装置，同时完成对温室气体CH4碳氢两种元素富集和同位素丰度的分析测定，使用冷阱组合，针对目标气体进行提纯和转换，保证了进入质谱的样品纯度，氧化炉及时自动补充氧气，保持CUO的氧化能力。 | ||
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