专利详情

专利名称	光纤干涉仪多参数的综合测量系统
申请号	CN201410032166.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103759924A	公开（授权）日	2014.04.30
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	徐团伟;方高升;李芳;刘育梁
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	光纤干涉仪多参数的综合测量系统至光纤干涉仪多参数的综合测量系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种光纤干涉仪多参数的综合测量系统，包括：一窄线宽可调谐半导体激光器，其用于提供传输用的信号光；一光隔离器，其输入端与窄线宽可调谐半导体激光器的输出端连接；一干涉仪，其端口1与光隔离器的输出端连接，用于减小瑞利散射光对激光器的影响，以保护激光器长时间稳定的工作；一载波电路，其输出端与干涉仪的端口3连接，用于提供干涉仪中PZT调制信号；一光电探测器，其输入端与干涉仪的端口2连接；一数据采集卡，其输入端与光电探测器的输出端连接，用于将接收到的光信号转换为电信号；一数据处理机，其输入端与数据采集卡的输出端连接，用于将数据采集卡采集到的数字信号进行处理，以可见度、调制幅度和初始相位差作为待定参数，采用非线性最小平方和拟合给出上述参数值。