专利详情

专利名称	一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法
申请号	CN201310719657.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103760416A	公开（授权）日	2014.04.30
申请（专利权）人	中国科学院等离子体物理研究所	发明（设计）人	王茂
主分类号	G01R25/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R25/00(2006.01)I
专利有效期	一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法至一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种定向耦合器测量高功率微波相位的误差分析方法，包括以下步骤：（1）根据微波传输线理论，由简化信号流图的分析，得到测量相位与实际相位之间的关系式。（2）根据（1）中得到的关系式，通过编写程序来分析计算，获得量化的相位误差大小。（3）通过误差分析，可以指导我们进行硬件系统的优化，最大限度地减小误差。本发明为TOKMAK装置高功率微波系统的相位测量误差进行了分析，得到影响相位测量误差的因素，在简化信号流图分析的基础上，得到高功率微波相位测量误差的表达式，通过关系式由计算程序来分析测量的误差，最后获得相位测量误差与方向性系数以及电长度和反射系数的关系。