专利详情

专利名称	一种具有测距功能的被动成像系统及其测距方法
申请号	CN201410040445.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103760567A	公开（授权）日	2014.04.30
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	孔庆善;崔伟;王新伟;周燕;刘育梁
主分类号	G01S17/08(2006.01)I	IPC主分类号	G01S17/08(2006.01)I;G01S17/89(2006.01)I
专利有效期	一种具有测距功能的被动成像系统及其测距方法至一种具有测距功能的被动成像系统及其测距方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种具有测距功能的被动成像系统及其测距方法，该系统包括：高频低能量脉冲激光发射装置，用于发射高频低能量激光脉冲，并扩束整形以达到远距离；光电二极管阵列探测器成像装置，用于接收由目标反射回的激光光斑及背景图像，并通过调整积分时间来获取距离值；视频放大及模数转换装置，用于将光电二极管阵列探测器成像装置的光生电荷转换为电压，并经过模数转换器将模拟图像数字化；数字图像处理与时序发生的数字处理装置，用于对视频放大及模数转换装置输入的数字图像进行预处理及目标提取。本发明实现了高性能被动成像和测距功能的结合。