专利详情

专利名称	一种测试FPGA的装置与方法
申请号	CN201210427357.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103792487A	公开（授权）日	2014.05.14
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	王飞;杨海钢
主分类号	G01R31/317(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/317(2006.01)I
专利有效期	一种测试FPGA的装置与方法至一种测试FPGA的装置与方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种测试FPGA的装置与方法。该测试FPGA的装置位于FPGA芯片内，包括：自测试控制器，用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号；地址生成器，用于在地址生成信号的驱动下，生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址，并使该地址对应的FPGA配置阵列处于相应的读写状态；数据生成器，用于在回读使能信号的作用下，对于由地址生成器提供的每一个地址，依据该地址，首先从FPGA配置阵列读取配置数据，对该配置数据进行变换形成一组新的测试配置数据，然后将新产生的测试配置数据重新写回至FPGA配置阵列的该地址。本发明减少了从芯片外部串行加载测试配置的次数，提升了测试效率，降低了测试成本。