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半导体器件及其制造方法

  • 申请号:CN201210447259.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103811339A
  • 公开(公开)日:2014.05.21
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 半导体器件及其制造方法
申请号 CN201210447259.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103811339A 公开(授权)日 2014.05.21
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 朱慧珑
主分类号 H01L21/336(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/8238(2006.01)I;H01L27/092(2006.01)I
专利有效期 半导体器件及其制造方法 至半导体器件及其制造方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本申请公开了一种鳍结构制造方法。一示例方法可以包括:在衬底上依次形成第一半导体层和第二半导体层;对第二半导体层、第一半导体层进行构图,以形成初始鳍;选择性刻蚀初始鳍中的第一半导体层,使其横向凹入;在衬底上形成隔离层,该隔离填充所述横向凹入,隔离层除填充横向凹入之外的部分的顶面低于第一半导体层的顶面、高于第一半导体层的底面,从而限定出位于隔离层上方的鳍;以及在隔离层上形成横跨鳍的栅堆叠。

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