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一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置

  • 申请号:CN201410078836.3
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
  • 公开(公开)号:CN103822713A
  • 公开(公开)日:2014.05.28
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置
申请号 CN201410078836.3 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103822713A 公开(授权)日 2014.05.28
申请(专利权)人 中国科学院光电研究院 发明(设计)人 王建威;吕群波;裴琳琳;刘扬阳;张丹丹;钱路路;马原
主分类号 G01J3/28(2006.01)I IPC主分类号 G01J3/28(2006.01)I
专利有效期 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 至一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置,其中,所述方法包括:将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪;调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽,并获取所述光谱成像仪的输出信号,对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值,当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时,确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽dλ;根据得到理想单色光的最小分辨的波长间隔Δ。对分辨率进行直接检测,实现对不同类型成像光谱仪、不同分辨率进行检测。

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