
一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置
- 申请号:CN201410078836.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号:CN103822713A
- 公开(公开)日:2014.05.28
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 | ||
申请号 | CN201410078836.3 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103822713A | 公开(授权)日 | 2014.05.28 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 王建威;吕群波;裴琳琳;刘扬阳;张丹丹;钱路路;马原 |
主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
专利有效期 | 一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 至一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 |
本发明公开了一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置,其中,所述方法包括:将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪;调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽,并获取所述光谱成像仪的输出信号,对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值,当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时,确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽dλ;根据 |
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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