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像素单元读出装置及方法、像素阵列读出装置及方法

  • 申请号:CN201410095469.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海高等研究院
  • 公开(公开)号:CN103873792A
  • 公开(公开)日:2014.06.18
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 像素单元读出装置及方法、像素阵列读出装置及方法
申请号 CN201410095469.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103873792A 公开(授权)日 2014.06.18
申请(专利权)人 中国科学院上海高等研究院 发明(设计)人 汪辉;陈志卿;章琦;汪宁;方娜;田犁;陈杰
主分类号 H04N5/378(2011.01)I IPC主分类号 H04N5/378(2011.01)I;H04N5/374(2011.01)I;H01L27/146(2006.01)I
专利有效期 像素单元读出装置及方法、像素阵列读出装置及方法 至像素单元读出装置及方法、像素阵列读出装置及方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一像素单元读出装置及方法、像素阵列读出装置及方法,所述像素单元读出方法包括:复位步骤:将所述光电二极管正偏,以清空所述半浮栅中的电荷;第一读取步骤:将进行复位步骤后的所述半浮栅晶体管的漏极和控制栅相连,并读取第一阈值电压;曝光步骤:将所述光电二极管反偏,以进入曝光状态;第二读取步骤:将进行曝光操作后的所述半浮栅晶体管的漏极和控制栅相连,并读取第二阈值电压;输出步骤:将所述第一阈值电压和所述第二阈值电压的差值输出,得到阈值电压信号。所述像素单元读出方法最终得到的阈值电压为两次阈值电压采样的差值,与半浮栅晶体管本身的阈值电压无关,消除了固定模式噪声的问题,提高了成像的质量。

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