光学元件测量装置和测量方法
- 申请号：CN201410083597.0
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN103884489A
- 公开(公开)日：2014.06.25
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 光学元件测量装置和测量方法 | ||
| 申请号 | CN201410083597.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103884489A | 公开（授权）日 | 2014.06.25 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张玉奇;王江峰;黄文发;彭宇杰;乔治;蒋志龙 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 光学元件测量装置和测量方法 至光学元件测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种光学元件测量装置和测量方法，装置包括连续光纤激光器，沿该连续光纤激光器的输出光束方向依次是光纤准直器、第一偏振分光棱镜、半波片、标准法拉第旋光器、第二偏振分光棱镜、待测光学元件置放台、全反射镜和第三偏振分光棱镜。本发明可对法拉第旋光器、λ/4波片、λ/2波片、电光开关的性能进行测量，还有系统自检功能。该装置具有操作方便，结构紧凑，测量精度高的特点。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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