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SiAlON薄膜及其制备方法

  • 申请号:CN201210563617.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 公开(公开)号:CN103880432A
  • 公开(公开)日:2014.06.25
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 SiAlON薄膜及其制备方法
申请号 CN201210563617.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103880432A 公开(授权)日 2014.06.25
申请(专利权)人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明(设计)人 刘光辉;刘茜;周真真;魏钦华;杨华
主分类号 C04B35/599(2006.01)I IPC主分类号 C04B35/599(2006.01)I;C04B35/622(2006.01)I
专利有效期 SiAlON薄膜及其制备方法 至SiAlON薄膜及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了一种SiAlON薄膜,以Si、Al、O和N的总原子数为基准计,该薄膜包含:27.7-35.6%的Si,10.8-13.4%的Al,19.3-57.5%的O,以及3.9-31.7%的N,所述薄膜还额外包含1-3%的以下附加金属元素:稀土元素、碱土金属、或其组合,以上百分数均为原子数百分比。本发明还提供了用来制备该薄膜的方法。

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