专利详情

专利名称	纹影测量成像系统及方法
申请号	CN201410068835.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103884486A	公开（授权）日	2014.06.25
申请（专利权）人	中国科学院力学研究所	发明（设计）人	戴国亮;孙志斌;代斌;王静
主分类号	G01M9/06(2006.01)I	IPC主分类号	G01M9/06(2006.01)I
专利有效期	纹影测量成像系统及方法至纹影测量成像系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种纹影测量成像系统和方法，该系统包括光源，用于输出光信号；以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、流场观测区域、第二聚焦透镜、刀口、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和单点光电探测器；压缩算法模块，其与单点光电探测器电信号连接，用于重构图像，通过对图像的纹影计算方法计算出观测流场的结构分布。本发明将压缩感知理论与纹影测量相结合，创造性的提出稀疏纹影测量方法，具有高通量、高信噪比、快速灵活的特点，适宜于常规光强、弱光、微弱光、超微弱光和单光子纹影测量方式，是一种大动态范围的稀疏纹影测量方法。