
用于磁学和电学性质同步测量的SQUID密封腔系统
- 申请号:CN201410157558.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN103885010A
- 公开(公开)日:2014.06.25
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 用于磁学和电学性质同步测量的SQUID密封腔系统 | ||
申请号 | CN201410157558.0 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103885010A | 公开(授权)日 | 2014.06.25 |
申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 赵建华;王海龙 |
主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/12(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
专利有效期 | 用于磁学和电学性质同步测量的SQUID密封腔系统 至用于磁学和电学性质同步测量的SQUID密封腔系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供了一种用于磁学和电学性质同步测量的SQUID密封腔系统。该SQUID密封腔系统包括:样品腔;样品杆,伸入样品腔内,待测样品固定在其下段的样品托上;传输台,与样品腔密封连接;密封柱状体,包括:两侧开口的柱状体内筒,其下侧密封固定于传输台;单侧开口的柱状体外筒,其下侧开口,套接与柱状体内筒的外侧,且两者之间通过挤压O型橡胶密封圈实现密封,其上方开孔;快接接头,密封固定于柱状体外筒上方的开孔,该快接接头具有若干个导电针;其中,导线由待测样品的相应测试点引出,通过快接接头上的导电针由样品腔内引出。本发明实现了SQUID密封腔系统样品腔内导线的接入,有利于实现磁学和电学性质的同步测量。 |
交易流程
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专利 -
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