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X射线吸收谱的原位加热装置

  • 申请号:CN201210564335.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
  • 公开(公开)号:CN103884725A
  • 公开(公开)日:2014.06.25
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 X射线吸收谱的原位加热装置
申请号 CN201210564335.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103884725A 公开(授权)日 2014.06.25
申请(专利权)人 中国科学院高能物理研究所 发明(设计)人 洪才浩;安鹏飞;张静;胡天斗
主分类号 G01N23/06(2006.01)I IPC主分类号 G01N23/06(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I
专利有效期 X射线吸收谱的原位加热装置 至X射线吸收谱的原位加热装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供的X射线吸收谱的原位加热装置,包括样品架和样品室。样品架包括盖部、穿设于盖部的两电极及电偶、设置于两电极下端的加热部,电偶伸入加热部。样品室包括样品室主体,设置于样品室主体的第一通光窗、第二通光窗、第三通光窗,以及与样品室主体连通的抽真空接口。其中,样品室主体的顶壁上开设有上开口,其侧壁上开设有第一通光孔、第二通光孔和第三通光孔,第一通光窗对应于第一通光孔设置于样品室主体的外侧,第二通光窗对应于第二通光孔设置于样品室主体的外侧,第三通光窗对应于第三通光孔设置于样品室主体的外侧,盖部下侧的电极、电偶及加热部由上开口伸入到样品室主体内,盖部螺接于样品室主体而形成密封的腔体。

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