
一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法及装置
- 申请号:CN201210575352.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN103901013A
- 公开(公开)日:2014.07.02
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法及装置 | ||
申请号 | CN201210575352.0 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103901013A | 公开(授权)日 | 2014.07.02 |
申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 祁志美;胡德波;逯丹凤 |
主分类号 | G01N21/65(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/65(2006.01)I |
专利有效期 | 一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法及装置 至一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种消逝场激发薄膜拉曼信号的增强方法,所述方法将待测薄膜形成于棱镜表面,再将入射光射入棱镜并在棱镜/待测薄膜界面处发生全反射,利用全反射产生的消逝场激发待测薄膜的拉曼信号,然后增大待测薄膜上方覆盖层折射率,用于增强消逝场,最终实现待测薄膜拉曼信号的增强。该方法也可以利用光纤或光波导取代棱镜,通过增强光纤或光波导的消逝场实现待测薄膜拉曼信号的增强。本发明的拉曼信号增强方法操作简单,重复性好,具有良好的表面选择性,消逝场偏振状态灵活可调,覆盖层折射率易于控制,非常适合用于探测单分子吸附层,表面修饰层等固体超薄膜的拉曼信号。 |
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