
基于GaN基异质结构的二极管结构及制作方法
- 申请号:CN201410112734.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN103904134A
- 公开(公开)日:2014.07.02
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于GaN基异质结构的二极管结构及制作方法 | ||
申请号 | CN201410112734.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103904134A | 公开(授权)日 | 2014.07.02 |
申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 康贺;王晓亮;肖红领;王翠梅;冯春;姜丽娟;殷海波;崔磊 |
主分类号 | H01L29/872(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L29/872(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I |
专利有效期 | 基于GaN基异质结构的二极管结构及制作方法 至基于GaN基异质结构的二极管结构及制作方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种基于GaN基异质结构的二极管,包括:一衬底;一缓冲层,该缓冲层制作在衬底上;一异质结构势垒层,其制作在缓冲层上;与缓冲层形成二维电子气的异质结构外延层;一P型盖帽层,其制作在异质结构势垒层上,其两侧形成台面;一欧姆接触阳极,其制作在异质结构势垒层上,位置在紧挨着台面的一侧;一欧姆接触阴极,其制作在异质结构势垒层上,且远离P型盖帽层的另一侧的台面上;一肖特基阳极,其制作在P型盖帽层和欧姆接触阳极上;一第一电极,其制作在肖特基接触上;一第二电极,其制作在欧姆接触阴极上。本发明可以降低器件的开启电压,同时实现器件低反向漏电和高阻断特性工作。 |
交易流程
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