
一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法
- 申请号:CN201410148270.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学技术大学
- 公开(公开)号:CN103903666A
- 公开(公开)日:2014.07.02
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法 | ||
申请号 | CN201410148270.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103903666A | 公开(授权)日 | 2014.07.02 |
申请(专利权)人 | 中国科学技术大学 | 发明(设计)人 | 吴自玉;王圣浩;韩华杰;张灿;杨蒙;王志立;高昆 |
主分类号 | G21K3/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G21K3/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法 至一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及X射线相位衬度成像技术领域,公开了一种对X光机出射光谱进行带通滤波的方法,该方法是将盛满碘化钾溶液或碘化钠溶液的有机玻璃容器与X光机阳极出射面对准,使有机玻璃容器中的碘化钾溶液或碘化钠溶液能完全覆盖X光机阳极发出的锥束X射线,利用碘化钾溶液或碘化钠溶液对不同能量段X射线衰减能力的差异性,来滤除X光机出射光谱中的高能部分和低能部分。滤除X光机出射光谱中的高能部分,提高了常规X光源光栅相位衬度成像的位移曲线对比度,增加了相位信息提取的灵敏度和准确性。滤除X光机出射射线的低能部分,降低了样品的辐射损伤,去除了重建伪影,增加了X射线光栅相位衬度系统的成像质量。 |
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