专利详情

专利名称	一种测量阻变存储器激活能的方法
申请号	CN201410144275.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103928057A	公开（授权）日	2014.07.16
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	卢年端;李泠;刘明;孙鹏霄;王明;刘琦
主分类号	G11C29/08(2006.01)I	IPC主分类号	G11C29/08(2006.01)I
专利有效期	一种测量阻变存储器激活能的方法至一种测量阻变存储器激活能的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种测量阻变存储器激活能的方法，包括：测量阻变存储器的I-V曲线，并从该I-V曲线来确定阻变存储器的低阻态电流值及高阻态电流值；计算在低阻态及高阻态下阻变存储器导电细丝中的电流；计算阻变存储器高阻态下导电细丝的外加电场；计算高低阻态下载流子跃迁的激活能。利用本发明，通过简单的方法可以测量出阻变存储器的激活能，大大减少了测量误差，并能够区分出电子运动、离子扩散等载流子运动时各自的激活能，为研究阻变存储器的微观物理机制提供理论指导。