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一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法

  • 申请号:CN201410159400.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院新疆天文台
  • 公开(公开)号:CN103926548A
  • 公开(公开)日:2014.07.16
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法
申请号 CN201410159400.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103926548A 公开(授权)日 2014.07.16
申请(专利权)人 中国科学院新疆天文台 发明(设计)人 裴鑫;陈卯蒸;刘志勇;马军;王娜
主分类号 G01R35/00(2006.01)I IPC主分类号 G01R35/00(2006.01)I
专利有效期 一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法 至一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法,可有效解决大口径射电望远镜反射面精度测量中测量时间长、测量精度低、固定俯仰测量、需额外硬件设备辅助等问题。本发明是一种特殊的相位恢复微波全息法,只需测量天线孔径场幅度,而对其相位采用一定的方法进行恢复。本发明可采用任意稳定的射电天文源作为其信号源,利用天文接收机和终端(功率辐射计),对天线聚焦和离焦下的波束图进行扫描;利用泽尼克多项式函数建立天线孔径相位模型,通过最小化算法对模型值和实测值的残差进行迭代运算,便可获取残差矢量最小的最优解,以得到泽尼克多项式系数,并反推获得天线的孔径相位分布,即可获得射电望远镜的反射面精度。

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