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光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置

  • 申请号:CN201420054625.1
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN203720528U
  • 公开(公开)日:2014.07.16
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置
申请号 CN201420054625.1 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN203720528U 公开(授权)日 2014.07.16
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 蔡燕民;李中梁;步扬;王向朝;黄惠杰
主分类号 G03F7/20(2006.01)I IPC主分类号 G03F7/20(2006.01)I
专利有效期 光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置 至光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置 法律状态 授权
说明书摘要 一种光刻机偏振照明系统光瞳偏振态测量装置,包括反射镜、针孔板、成像物镜、中继物镜、相位补偿板、1/4波片、1/2波片、沃拉斯顿棱镜、聚焦镜、像传感器。光刻机照明系统的偏振光束入射到反射镜上,被反射到与照明系统光轴垂直的方向,投射到针孔板上,通过针孔的光束再经过成像物镜和中继物镜准直成平行光束,通过相位补偿板、1/4波片、1/2波片,投射到沃拉斯顿棱镜上,被沃拉斯顿棱镜分成2束光,经过聚焦镜投射到像传感器上。本实用新型可以实时监测照明光瞳偏振态的动态变化,直接测量得到每一个归一化的斯托克斯参量,或者每一个斯托克斯参量,1/4波片和1/2波片分别仅有2个定位位置,不需要连续旋转,运动控制简单可靠。

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