
一种光学凸球面面形的检测装置及方法
- 申请号:CN201410199400.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN103954235A
- 公开(公开)日:2014.07.30
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种光学凸球面面形的检测装置及方法 | ||
申请号 | CN201410199400.X | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103954235A | 公开(授权)日 | 2014.07.30 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 许嘉俊;贾辛;徐富超;邢廷文 |
主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
专利有效期 | 一种光学凸球面面形的检测装置及方法 至一种光学凸球面面形的检测装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供一种光学凸球面面形的检测装置及方法,该装置中,光源发出波长可变的线偏振准单色光,经滤波孔、第一扩束镜、空间滤波器、第二扩束镜、λ/4波片和第一聚焦透镜聚焦于小孔中心。一部分小孔衍射波经第二聚焦透镜照射到被测凸球面表面,经过反射后形成检测光束,经第二聚焦透镜聚焦于小孔附近,在小孔衍射板背面反射,再与另一部分作为参考光束的小孔衍射波发生干涉。将被测凸球面换为一随机球,其球心与被测凸球面球心位置重合,通过多次测量标定第二聚焦透镜引入的聚焦系统误差。本发明利用接近理想球面的小孔衍射波作为参考波,采用随机球法多次测量标定聚焦系统误差,能够实现对光学凸球面面形的高精度测量。 |
交易流程
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专利 -
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