
一种BTS型栅SOI器件的建模方法
- 申请号:CN201410167764.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN103955574A
- 公开(公开)日:2014.07.30
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种BTS型栅SOI器件的建模方法 | ||
申请号 | CN201410167764.X | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103955574A | 公开(授权)日 | 2014.07.30 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 卜建辉;罗家俊;韩郑生 |
主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
专利有效期 | 一种BTS型栅SOI器件的建模方法 至一种BTS型栅SOI器件的建模方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种SOI?MOS器件的建模方法,其中该SOI?MOS器件为BTS型栅SOI?MOS器件,该方法包括:a.提取所述MOS器件的模型参数,包括直流参数和交流参数;b.计算额外栅电容;c.以提取的MOS器件模型为基础,采用子电路模型,在栅和体之间加上额外的栅电容,生成最终模型。根据本发明提供的建模方法,考虑BTS型栅SOI器件中额外的山电容对器件的性能的影响,提高了模型的精确度,能够有效的运用于对BTS型栅SOI器件的仿真设计。 |
交易流程
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