长波长扫描近场显微分析系统
- 申请号：CN201410200652.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学技术大学
- 公开(公开)号：CN103954802A
- 公开(公开)日：2014.07.30
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 长波长扫描近场显微分析系统 | ||
| 申请号 | CN201410200652.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103954802A | 公开（授权）日 | 2014.07.30 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 陆亚林;杨蒙蒙;黄秋萍;胡翔;陆轻铀 |
| 主分类号 | G01Q60/18(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/18(2010.01)I |
| 专利有效期 | 长波长扫描近场显微分析系统 至长波长扫描近场显微分析系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种长波长扫描近场显微分析系统。该长波长扫描近场显微分析系统集成宽频长波长和单频太赫兹波、利用扫描探针、集成可变电场、可变磁场、可变温度场的近场显微分析系统，填补了在近场显微领域里长波长波段的技术空白，连接起近场光学显微技术、近场微波显微技术，为科研人员提供了一种全方位的样品物性测试工具。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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过户资料
平台保障
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