专利详情

专利名称	一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法
申请号	CN201310039434.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103968783A	公开（授权）日	2014.08.06
申请（专利权）人	北京智朗芯光科技有限公司;中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	崔高增;刘涛;李国光
主分类号	G01B11/26(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/26(2006.01)I
专利有效期	一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法至一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法，属于光学器件技术领域。该方法基于无样品直通式旋转波片椭偏光学系统，包括步骤1：旋转双片波片补偿器，得到不同波长下的光谱强度；步骤2：对探测单元接收到的各个波长下的光谱强度作傅里叶展开或拟合，得到不同波长下的实验傅里叶系数α′₄,β′₄；步骤3：计算得到光轴偏差角Δ_c。该方法通过旋转波片，可以测量出双片波片中光轴对准的偏差角度，即光轴偏差角，并且，在使用时，起偏器P和检偏器A可处于任意的角度。