
探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法
- 申请号:CN201410148101.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
- 公开(公开)号:CN103983571A
- 公开(公开)日:2014.08.13
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法 | ||
申请号 | CN201410148101.3 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103983571A | 公开(授权)日 | 2014.08.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明(设计)人 | 杨福桂;李明;盛伟繁 |
主分类号 | G01N21/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/00(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I |
专利有效期 | 探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法 至探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种探测器像素响应非均匀误差校正装置及其校正的方法,该装置包括依次设置的激光光源组件、耦合透镜、光纤、容器和黑箱;容器内设有散射介质溶液,光纤插入散射介质溶液中,黑箱内设有待校准的探测器,待校准的探测器连接信号采集和处理模块。该校正的方法:将激光光源组件射出的准直激光经过耦合透镜聚焦至光纤,光纤将激光从入射端面进入散射介质溶液中,散射介质溶液对激光进行体散射,散射光从出射端面透射入黑箱中,并在待校准的探测器位置形成均匀光场;信号采集和处理模块对试验数据采集、处理,获得校正数据。本发明实现探测器像素响应非均匀的校正波长与实际激光测量系统的激光光源波长匹配;从而实现高精度的激光测量。 |
交易流程
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选取所需
专利 -
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