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获得稀疏微波成像相变图的方法

  • 申请号:CN201410225128.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
  • 公开(公开)号:CN103983960A
  • 公开(公开)日:2014.08.13
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 获得稀疏微波成像相变图的方法
申请号 CN201410225128.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103983960A 公开(授权)日 2014.08.13
申请(专利权)人 中国科学院电子学研究所 发明(设计)人 赵曜;毕辉;张冰尘
主分类号 G01S7/41(2006.01)I IPC主分类号 G01S7/41(2006.01)I;G01S13/89(2006.01)I
专利有效期 获得稀疏微波成像相变图的方法 至获得稀疏微波成像相变图的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了一种获得稀疏微波成像相变图的方法。该方法包括:步骤A:建立稀疏微波雷达成像模型;步骤B:接收给定的U组稀疏微波成像参数,其中,每一组稀疏微波成像参数包括:稀疏度ρ、降采样比δ、信噪比SNR;步骤C:对于每一组稀疏微波成像参数,进行L组重建实验,得到该组稀疏微波成像参数重建概率的统计值Puu,δu,SNRu),u=1、2、……、U;步骤D:由多组稀疏微波成像参数对应的重建概率的统计值获得相变图,相变图中坐标为(ρu、δu、SNRu)的点对应的值为Puu,δu,SNRu),其中,u=1、2、……、U。本发明可以实现稀疏微波成像相变图的快速计算。

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