
一种基于FP标准具的高光谱分辨大气瑞利测温方法
- 申请号:CN201410172341.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学技术大学
- 公开(公开)号:CN103983374A
- 公开(公开)日:2014.08.13
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种基于FP标准具的高光谱分辨大气瑞利测温方法 | ||
申请号 | CN201410172341.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103983374A | 公开(授权)日 | 2014.08.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学技术大学 | 发明(设计)人 | 夏海云;上官明佳;窦贤康;孙东松;赵若灿;舒志峰 |
主分类号 | G01K11/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01K11/30(2006.01)I |
专利有效期 | 一种基于FP标准具的高光谱分辨大气瑞利测温方法 至一种基于FP标准具的高光谱分辨大气瑞利测温方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提出了一种基于FP标准具的高光谱分辨大气瑞利测温方法。该方法先用FP标准具扫描355nm连续激光来标定标准具,再用标定了的FP标准具扫描垂直指向望远镜接收回的大气后向散射信号。为了消除米散射的影响,借助同一地点测量的后向散射比对透过率数据进行修正。反演时,对修正后得到的瑞利后向散射透过率数据进行非线性最小二乘法拟合,根据拟合得到的温度项反演大气温度。该方法主要用于平流层温度探测。在平流层高度,瑞利散射较拉曼散射强,测量信噪比高;本发明利用垂直指向的望远镜,垂直方向上风速可忽略不计,风速引起的频率变化因此也可忽略不计;本发明利用后向散射比修正透过率,消除了米散射对测量的影响。 |
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