专利详情

专利名称	一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法
申请号	CN201410238847.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104007439A	公开（授权）日	2014.08.27
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	刘燕;林赟;谭维贤;洪文;王彦平
主分类号	G01S13/90(2006.01)I	IPC主分类号	G01S13/90(2006.01)I
专利有效期	一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法至一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种干涉圆迹SAR高程估计方法，包括：步骤1，粗估计出场景DEM；步骤2，在粗估计出的场景DEM的基础上，对InSAR平台主、副天线分别独立进行BP成像，其中采用分子孔径的方式对主副天线获取的圆迹SAR数据进行BP成像，每n度为一个子孔径，得到360/n个子孔径图像对，n是大于等于1的自然数；步骤3，对于每个子孔径图像对，进行干涉处理；步骤4，将步骤3获得的各子孔径图像对干涉处理估计的场景高程，根据其干涉系数的大小，进行加权平均，得到360度观测下的高程图；步骤5，将步骤4估计出的高程图作为步骤2中的参考DEM输入，重复步骤2到4若干次，直到干涉图像的干涉系数不再下降。